TaeSeung Electronic

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    • Capacitance Method

    Model No : DPS17

    Capacitance Method

    커패시턴스 방법:
    유전 상수 및 유전 손실 탄젠트 측정 시스템(Dk/Df)
    평판, 액체, 젤, 초박막, 박막 화합물용으로 적합 합니다.

    Capacitance Method

    커패시턴스 방법:
    유전 상수 및 유전 손실 탄젠트 측정 시스템(Dk/Df)
    평판, 액체, 젤, 초박막, 박막 화합물용으로

    적합 합니다.

    제품 사양

     

    샘플 테스트 예제 

     

        *컴퓨터는 측정 결과를 계산하고 위와 같이 그래프를 출력합니다.
          숫자 값은 Excel 또는 기타 데이터 형식을 사용하여 처리할 수 있는 파일에 저장됩니다.

    적극 외관 측정 사양

     


    유전율, 유전손실

    Permittivity, Dielectric loss tangent

    상대 유전율, 유전 손실 탄젠트, 상대 투과율
    반사및 전송 모드,필름, 박막, 시트, 액체, 밀리미터파, 고정밀, Dk, Df, εr 

    차폐율

    Shield effect measurement systems

    차폐 효과 측정 시스템,도파관 유형

    실드효과 측정 시스템, 동축 튜브 유형

    (10.0kHz~18.0GHz)

     흡수율

    Absorption Rate Measurement 

    렌즈 안테나 방식 

    전파 흡수기, 반송 손실 측정시스템

    JIS R1679 : 2007/IEC 62431 : 2008

    투자율

    Permeabilty systems

    자기 특성(자기 투과성 포함)

    측정 시스템 (100kHz~30GHz 범위에서

    광범위하게 측정 가능)

    CONTACT US

    info@taeseunge.com

    070-4352-5837

    경기도 광명시 소하동 1345

    광명테크노파크 제 A동 808호

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